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Elektronenmikroskopie

Grundlagen, Methoden, Anwendungen
Verfasser: Suche nach diesem Verfasser Flegler, Stanley L.; Heckman, John W.; Klomparens, Karen L.
Verfasserangabe: Stanley L. Flegler ; John W. Heckman ; Karen L. Klomparens
Bereich: Naturwissenschaften
Jahr: 1995
Verlag: Heidelberg <u.a.>, Spektrum, Akad. Verl.
Mediengruppe: Sachbuch
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Stadtteilbücherei: Magazinbestand Bereich: Naturwissenschaften Standorte: UCO 4 FLE / Bitte sprechen Sie uns an Status: Verfügbar Frist: Vorbestellungen: 0

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Systematik: Suche nach dieser Systematik UCO 4, UFF 2
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ISBN: 3-86025-341-7
Beschreibung: VIII, 279 S. : zahlr. Ill. und graph. Darst.
Schlagwörter: Elektronenmikroskopie
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Originaltitel: Scanning and transmission electron microscopy
Fußnote: Aus dem Engl. übers.
Mediengruppe: Sachbuch